MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA JEOL JSPM-5200
 |
Sus principales aplicaciones son la determinación de topografía, imágenes de fuerza, fase y amplitud, contacto, curva de la fuerza de fricción, en modo contacto AFM y Modo AC AFM respectivamente. Obteniendo resolución atómica en ambos métodos.
|
|
|
Institución
|
Responsable
|
Contacto
|
 |
Dr. Arnoldo Bedolla Jacuinde |
E-mail: Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.
|