MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO JEOL JSM7600F (FE-SEM)
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Resolución: 2.3 Å; Amplificación: 1,000,000 X; Voltaje de aceleración: 0.1 – 30 KV; Detector de electrones secundarios de bajo y alto ángulo (SEI y LEI); Sistema “In lens” del cañón; Cuenta con filtro de energía, y cuenta con modo de análisis de haz suave (GB)
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Institución
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Responsable
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Contacto
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Dr. Arnoldo Bedolla Jacuinde |
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