MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO - FE-SEM - MODELO: JSM-7600F MARCA: JEOL
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Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo FE-SEM JEOL JSM-7600F. Resolución máxima de al menos 0.8nm garantizados a 30kv, 1.5nm garantizados a 1.0kv y 5nm garantizados a 0.1kv, usando Gentle Beam. Detector de electrones retrodispersados y secundarios. Microanálisis y mapeo de elementos por EDS. En recubrimientos y películas delgadas es posible ver la morfología de la superficie, el espesor de los materiales, identificar zonas claras y obscuras, grietas, huellas de indentación y análisis químico de elementos a partir del boro – carbono.
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Institución
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Responsable
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Contacto
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Dr. Julián Hernández Torres |
Dr. Julián Hernández
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