MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO JEOL JSM7600F (FE-SEM)

 

 

Resolución: 2.3 Å; Amplificación: 1,000,000 X; Voltaje de aceleración: 0.1 – 30 KV; Detector de electrones secundarios de bajo y alto ángulo (SEI y LEI); Sistema “In lens” del cañón; Cuenta con filtro de energía,  y cuenta con modo de análisis de haz suave (GB)

 

 

 

 

Institución
Responsable
Contacto

Dr. Arnoldo Bedolla Jacuinde
Dr. Ariosto Medina Flores

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Teléfono:4431555219